半导体材料性能测试科技名词
半导体材料性能测试科技名词：第1页
热探针法
thermal probe method
二探针法
two-probe measurement
三探针法
three-probe measurement
四探针法
four-probe measurement
扩展电阻法
spreading resistance profile
霍尔系数测量
measurement of Hall coefficient
直流光电导衰退法
direct current measurement of photoconductivity decay
高频光电导衰退法
high frequency measurement of photoconductivity decay method
电容电压法
capacitance-voltage method;C-V method
热激电流谱
thermally stimulated current spectrum;TSCS
热激电容谱
thermally stimulated capacitance spectrum
深能级瞬态谱
deep level transient spectroscopy;DLTS
光激发瞬态电流谱
optical transient current spectrum;OTCS
光热电离谱
photothermal ionization spectroscopy;PTIS
光致发光谱
photoluminescence spectrum
反射差分光谱
reflectance difference spectroscopy;RDS
光声光谱
photoacoustic spectroscopy
时间分辨光致发光谱
time-resolu-tion photoluminescence spectrum;TRPL spectrum
傅里叶变换红外吸收光谱
Fourier transformation infrared absorption spectroscopy
电子顺磁共振谱
electron paramagnetic resonance spectrum;EPRS
电子-核双共振谱
electron-nuclear double resonance spectrum;ENDORS
感应耦合等离子发射谱
inductively coupled plasma atomic emission spectrum;ICP-AES
半导体材料性能测试 的上级学科
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半导体材料
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